RIEGL VQ-780 II
Lotniczy skaner laserowy RIEGL VQ-780 II wykorzystujący technologię przetwarzania echa fali sygnału w czasie rzeczywistym, zapewnia zwiększoną wydajność i efektywność dzięki częstotliwości generowania impulsów lasera nawet do 2 MHz, co w rezultacie daje ponad 1,33 miliona pomiarów na sekundę. Ten wszechstronny skaner został zaprojektowany z myślą o wysokiej wydajności pozyskania danych na niskich, średnich i dużych wysokościach, obejmując wiele różnych zastosowań mapowania rozległych obszarów z wysoką rozdzielczością.
Jego konstrukcja z obrotowym lustrem, pracującym z wysoką prędkością zapewnia niezawodność i równomierny rozkład punktów w całym szerokim polu widzenia na wszystkich wysokościach operacyjnych. System oparty na sprawdzonej technologii Waveform-LiDAR firmy RIEGL, dostarcza najwyższej dokładności chmury punktów, doskonałej rozdzielczości w płaszczyźnie pionowej, kalibracji współczynnika odbicia i odchylenia kształtu impulsu, w celu dostarczenia niezawodnej informacji każdego pojedynczego pomiaru. Doskonała odporność na zakłócenia atmosferyczne zapewnia stosunkowo czyste chmury punktów, bez konieczności silnej ich filtracji.
Zalety skanera RIEGL VQ-780 II
częstotliwość generowania impulsów lasera do 2 MHz
do 1,33 pomiarów/sekundę
zdolność rozszczepiania wiązki lasera
doskonałe tłumienie zakłóceń atmosferycznych
wykorzystanie technologii MTA – do 35 pulsów w powietrzu jednocześnie
przetwarzanie echa fali sygnału w czasie rzeczywistym a także pełne i inteligentne nagrywanie przebiegów fali
równoległe linie skanowania przy jednolitym rozkładzie punktów
interfejs do synchronizacji czasu GNSS
integracja i kompatybilność z innymi systemami i pakietami oprogramowania RIEGL ALS
Główne zastosowania
mapowanie skomplikowanych zespołów miejskich
pomiary lodowców i pokrywy śnieżnej
modelowanie miejskie
mapowanie linii brzegowej jezior i rzek
architektura i leśnictwo
kontrola linii energetycznych, torów kolejowych i linii energetycznych
Riegl VQ-780 II wzór skanowania
Mechanizm skanowania RIEGL VQ-780II – oparty na stale obracającym się wielokątnym kole lustrzanym – zapewnia proste, równoległe linie skanowania, dzięki czemu uzyskuje się regularny wzorzec punktowy na podłożu. Przy jednakowej częstotliwości próbkowania przestrzennego wzdłuż i w poprzek toru, zakres obiektów jest dobrze zdefiniowany i nawet małe obiekty mogą być wykrywane. Instrument ten doskonale nadaje się do zastosowań, w których wymagany jest doskonały wzorzec punktowy na powierzchniach docelowych.
Riegl VQ-780 II efektywna szerokość pasa nalotu
Szerokie pole widzenia i możliwość wielokrotnego pomiaru RIEGL VQ-780i sprawiają, że system doskonale nadaje się do zastosowań mapowania szerokokątnego. Przyrząd został zaprojektowany z myślą o jak największej efektywności w zbieraniu danych, umożliwiając skanowanie z dużych wysokości przy jednoczesnym powtarzaniu impulsów laserowych, redukując do minimum czas lotu.
Produkcyjność systemu RIEGL VQ-780 II
Przykłady obliczone dla celów z min 20 % odbiciciem oraz 20% pokryciem pasów nalotu | ||||||
gęstość chmury punktów | 1 pkt/mkw | 2 pkt/mkw | 4 pkt/mkw | 8 pkt/mkw | 20 pkt/mkw | 30 pkt/mkw |
wysokość lotu | 6 960 ft | 4 920 ft | 3 580 ft | 3 580 ft | 2 820 ft | 2 310 ft |
prędkość względem ziemi | 300 kn | 300 kn | 292 kn | 206 kn | 130 kn | 106 kn |
szerokość pozyskiwanego pasa | 2450 m | 1730 m | 1260 m | 1260 m | 990 m | 810 m |
produktywność | 1 090 km kw/h | 770 km kw/h | 545 km kw/h | 386 km kw/h | 192 km kw/h | 128 km kw/h |
Częstotliwość pomiaru | 378 000 pom/sek | 535 000 pom/sek | 757 000 pom/sek | 1 070 000 pom/sek | 1 330 000 pom/sek | 1 330 000 pom/sek |
Częstotliwość wysyłania wiązki lasera – poziom mocy 100%
Częstotliwość wysyłania wiązki lasera – poziom mocy 6% – 50 %